半導(dǎo)體特性分析儀_4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

容易使用的4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，具有高精度和亞fA級(jí)的分辨率。它提供了先進(jìn)的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，Windows操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程，這樣用戶可以更快地開(kāi)始分析測(cè)試結(jié)果。其它一些特征使得應(yīng)力測(cè)量功能能夠滿足各種可靠性測(cè)試的需求。

* 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境

4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析儀4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析儀

* 獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至 0.1fA

* 用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

* 集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡

* 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)

* 獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能

* 內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)

4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析儀4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析儀

范的樣品測(cè)試

* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開(kāi)關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備

* 硬件由 Keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來(lái)控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充

* 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)

* 支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

我們公司代理銷售中電科思儀/Ceyear、恩智/NGI、橫河/YOKOGAWA、是德科技/Keysight、華儀/ECC、泰克/Tektronix、吉時(shí)利/Keithley、普源精電/RIGOL、羅森伯格、固緯電子/gwinstek、羅德與施瓦茨、阿美特克、臺(tái)灣致茂、福祿克、高美測(cè)儀、艾德克斯、MCC、費(fèi)思泰克、同惠電子、法國(guó)CA、克列茨等品牌;提供示波器、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率分析儀、頻譜分析儀、光譜分析儀、熱像儀、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)源、交流電源、直流電源、源表、示波記錄儀、數(shù)字功率計(jì)、無(wú)紙記錄儀、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、測(cè)試線纜、連接器、天線、傳感器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、邏輯分析儀、數(shù)據(jù)采集器、安規(guī)測(cè)試儀、信號(hào)分析儀、示波器探頭、電流探頭、電壓探頭、阻抗分析儀、皮安表、納伏表、靜電計(jì)、參數(shù)分析儀、耐壓測(cè)試儀、開(kāi)關(guān)電源、混頻器、變頻器、環(huán)形器、電子管、水負(fù)載、測(cè)試電纜、校準(zhǔn)件、EMC電磁兼容測(cè)試等產(chǎn)品銷售、系統(tǒng)集成、軟件開(kāi)發(fā)等服務(wù).客服電話：18518917293

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* 直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境

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* 獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至 0.1fA

* 用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能

* 集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡

* 內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)

* 獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能

* 內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)

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范的樣品測(cè)試

* 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開(kāi)關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備

* 硬件由 Keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來(lái)控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充

* 包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)

* 支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso